ZEISS: Schnellstes Rasterelektronenmikroskop der Welt

Auf der Neuroscience in Washington, D.C. vom 15. Bis 19. November präsentiert ZEISS das neue Rasterelektronenmikroskop ZEISS MultiSEM 505. Das System arbeitet weltweit zum ersten Mal mit 61 Strahlen parallel und bietet eine Aufnahmegeschwindigkeit von 1220 Megapixeln pro Sekunde bei einer Pixelgröße von 4 nm. Dies machen sich vor allem Hirnforscher bei der Abbildung neuronaler Gewebe zunutze. Sie können damit sehr viel größere Proben als bisher untersuchen. ZEISS MultiSEM 505 ist für den kontinuierlichen Betrieb ausgelegt und mit der intuitiven ZEN Software ausgestattet. cd