Geschärfter Blick ins Innere von Halbleitern

 

Geschärfter Blick ins Innere von Halbleitern

Immer leistungsfähigere Mikroskope ermöglichen heute Einblicke in Zellen und Gewebe von Lebewesen, in die Welt der Mikroorganismen ebenso wie in die unbelebte Natur. Doch auch die besten Mikroskope haben ihre Grenzen. Um Strukturen und Prozesse bis auf nanoskalige Ebene und darunter beobachten zu können, werden neue Methoden und Technologien gebraucht, sagt Dr. Silvio Fuchs vom Institut für Optik und Quantenelektronik der Universität Jena. Das gelte insbesondere für technologische Bereiche wie die Materialforschung oder die Datenverarbeitung. Gemeinsam mit Kollegen hat er jetzt eine Methode weiterentwickelt, die es ermöglicht, winzige, komplexe Strukturen abzubilden und zu untersuchen. In der aktuellen Ausgabe des Fachmagazins „Optica“ stellen die Forscher ihre Methode – die Kohärenztomographie mit extrem-ultraviolettem Licht vor und zeigen ihr Potenzial für Forschung und Anwendung auf. cd/Foto: Jens Meyer/Universität Jena

Datum: 18.02.2021
Rubrik: Wissenschaft
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